X-ray diffraction on Pinus wood samples (2018)
Source: Anais eletrônicos. Conference titles: Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM. Unidade: EESC
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MADEIRA, MATERIAIS
ABNT
ALMEIDA, Tiago Hendrigo de et al. X-ray diffraction on Pinus wood samples. 2018, Anais.. São Carlos, SP: EESC/USP, 2018. Disponível em: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2018/paper/view/1224/904. Acesso em: 10 maio 2024.APA
Almeida, T. H. de, Almeida, D. H. de, Sardela, M., & Lahr, F. A. R. (2018). X-ray diffraction on Pinus wood samples. In Anais eletrônicos. São Carlos, SP: EESC/USP. Recuperado de http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2018/paper/view/1224/904NLM
Almeida TH de, Almeida DH de, Sardela M, Lahr FAR. X-ray diffraction on Pinus wood samples [Internet]. Anais eletrônicos. 2018 ;[citado 2024 maio 10 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2018/paper/view/1224/904Vancouver
Almeida TH de, Almeida DH de, Sardela M, Lahr FAR. X-ray diffraction on Pinus wood samples [Internet]. Anais eletrônicos. 2018 ;[citado 2024 maio 10 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2018/paper/view/1224/904